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半导体测试治具

半导体测试治具

详细介绍

ICT测试治具可以直接对在线器件电气性能来进行测试,在测试的过程中可以发现产品的不良器件。从内存单元读取数据所需的时间,就是ICT测试治具的存储器读取时间,方法是这样的:

1.往单元A写入数据"0",单元B写入数据"1",坚持READ为使能状态并读取单元A值。

2.地址转换到单元B,实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间。

3.转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。

4.暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。

5.刷新时间--刷新内存的最i大允许时间。

6.建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间。

7.坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。

8.写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间。


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